Gå til innhold

Definere påskrifter

For tverrprofilmetoden kan vi definere påskrifter etter samme prinsipp som for massetyper. Disse reglene kan det også være mest hensiktsmessig å definere i vinduene for lengde- og tverrprofilredigering.

Fane for påskrift

Figur: Fanen for Påskrift i horisontalt listefelt i profilredigeringsvinduene

Påskriftene blir lagret i SFI-modell på samme måte som massetypene. Det betyr at vi kan slå av/på påskriftene også i presentasjonstegninger på samme måte som med lag og massetyper.

Påskriftfunksjonen er fleksibel og kan brukes til mange typer oppgaver. Det følger med en mal som vi kan bruke som et utgangspunkt. Velg Bruk mal... i dialogen for SFI-egenskaper... og velg Påskrifter.sfi fra Sys-mappen.

Høyreklikk i det horisontale listefeltet for påskrifter og du får opp valget Ny påskrift....

Oversikt over påskriftmetoder

Totalt har vi en rekke ulike påskriftmetoder:

Påskrift Lengdeprofil Tverrprofil
3D-linjer i lag x
Differanse mellom lag x x
Ekstralinjer x
Flater i lag x
Høyder i lag x x
Lag offset x
Minimum differanse mellom lag x x
Punkter i applikasjonslag x x
Punktskyer i applikasjonslag x x
Tunnelkontur x
Tunnelkontur vinkler x
VA linjedefinisjonsdata x

Tabellen over viser hvor de ulike metodene kan brukes. Videre vil en påskrift i vinduet for tverrprofilredigering gjelde for alle profilene der lagene er definerte.

Eksempler på påskriftmetoder

Nedenfor er det vist eksempler på bruk av ulike påskriftmetodene.

Flater i lag

Påskrift for flater i lag

Påskriftmetode: Flater i lag
Lag: Teo. 0: Overflate
Vis verdier: Bredde
Plassering: Langs horisontal linje
Offset: 5

Merk

Vi kan huke av for "Roter tekst 90 grader" hvis det ikke er plass.

Tunnelkontur

Påskrift for tunnelkontur

Påskriftmetode: Tunnelkontur
Lag: 31: Tunnel sprengningsprofil

Differanse mellom lag, eksempel 1

Påskrift for differanse mellom lag

Påskriftmetode: Differanse mellom lag
Lag: Teo. 31: Tunnel sprengningsprofil
Differanselag: Teo. 31: Tunnel sprengningsprofil
Differanselag 2: Fys. 90: Skannet tunnel
Målsettingsmetode: Linje med påskrift i forlengelse
Ca. tetthet: 0.50
Største differanse: 2.00
Bruk punkt i lag:
Bruk punkt i differanselag:
Fjern nære punkt:
Prioriter punkt med min.avvik:

Differanse mellom lag, eksempel 2

Påskrift for differanse mellom overflate og skannet tunnel

Påskriftmetode: Differanse mellom lag
Lag: Teo. 0: Overflate
Flateutvalg: (-2.01),(2.01)
Differanselag: Fys. 90: Skannet tunnel
Målsettingsmetode: Linje med påskrift i forlengelse
Ca. tetthet: 0.50
Maks. differanse: 2.00
Bruk punkt i lag:

Minimum differanse mellom lag

Påskrift for minimum differanse mellom lag

Påskriftmetode: Min. differanse mellom lag
Lag: Av.snitt 300: Bygninger
Differanselag: Av.snitt 451: Overvann
Plassering: Langs horisontal linje
Avstand fra CL: 0

Høyder i lag

Påskrift for høyder i lag

Påskriftmetode: Høyder i lag
Lag: 1: Terrengform
Ca. tetthet: 5
Bruk punkt i lag:
Plassering: I profilet
Offset: 1

Ekstralinjer

Påskrift for ekstralinjer

Påskriftmetode: Ekstralinjer
Offset: 1

Om man under Opsjoner ekstra- og 3D-linjer huker av for Tegn offsetkoordinater beregnes offset mellom senterlinjen og den eller de valgte ekstralinjer fra tilhørende nedtrekksmeny.

Punkter i applikasjonslag

Påskrift for punkter i applikasjonslag

Påskriftmetode: Punkter i applikasjonslag
Lag: 90: Tunnel
Utvalgsdybde: 0.5 (0.25 foran og bak profilnummer)

Merk

Påskriften som vises er hvor langt unna selve profilet punktet ligger.

Punktskyer i applikasjonslag

Påskrift for punktskyer i applikasjonslag

Påskriftmetode: Punktskyer i applikasjonslag
Lag: 90: Tunnel
Utvalgsdybde: 0.5 (0.25 foran og bak profilnummer)

Lag offset

Denne metoden bruker vi eksempelvis til å vise terrenget til side for senterlinjen.

Påskriftmetode: Lag offset
Lag: Fys 1: Terrengoverflate
Sideavstand: 5 (5 meter til høyre for senterlinjen)

Merk

Det må være generert tverrprofiler langs linjen da påskriften henter høyder fra disse.